Извещение о проведении открытого конкурса на право заключения государственных контрактов на проведение прикладных научных исследований по подпрограмме «Развитие электронной компонентной базы» на 2007-2011 годы. Конкурс №23 |
Предмет государственного контракта: Проведение прикладных научных исследований по подпрограмме «Развитие электронной компонентной базы» на 2007-2011 годы. Объем выполняемых работ указан в Техническом задании.
лот № 1 – Разработка и совершенствование системы испытаний на надежность изделий микроэлектронной техники на этапах ОКР, освоения и производства в условиях рыночной экономики;
лот № 2 – Проведение исследований и разработка организационно-технических мероприятий по созданию, изготовлению и испытаниям наиболее востребованных изделий микроэлектроники, в том числе БИС типа «система на кристалле» для стратегически значимых систем двойного и военного назначения с целью их импортозамещения;
лот № 3 – Исследования и разработка расчетно-экспериментальных методов и технических средств для оценки стойкости изделий микроэлектронной техники к воздействию одиночных импульсов напряжения, возникающих под действием на радиоэлектронную аппаратуру мощных электромагнитных излучений естественного и искусственного происхождения;
лот № 4 – Исследование и экспериментальная отработка методов испытаний на надежность и алгоритмов сигнально-логического взаимодействия радиоэлектронных и оптико-электронных информационных средств в интересах повышения точности и информативности в системах наблюдения;
лот № 5 – Исследования и разработка НТД, регламентирующих требования, объем и порядок создания и испытаний систем на кристалле для комплектования особо надежной аппаратуры;
лот № 6 – Создание интегрированной автоматизированной системы и экспертно-аналитическое обеспечение выполнения мероприятий подпрограммы «Развитие электронной компонентной базы»;
лот № 7 – Исследование и определение предельных возможностей радиационной стойкости СБИС с проектными нормами 0,25- 0,18-0,13 мкм;
лот № 8 – Исследование и разработка методов электронно-микроскопического неразрушающего контроля пластин с МОП структурами уровней технологии 0,25 – 018 мкм в процессе производства;
лот № 9 – Проведение исследований, разработка организационно-технических мероприятий по созданию, изготовлению, испытаниям, отработке методов контроля надежности универсальных матричных многоспектральных фотоприемных модулей на основе наногетероструктур с квантовыми ямами;
лот № 10 – Разработка организационно-технических мероприятий по анализу отказов изделий микроэлектроники с применением ультраразрешающих методов;
лот № 11 – Исследование и разработка современных методов анализа отказов и основополагающих документов по обеспечению качества и надежности ЭКБ на всех этапах жизненного цикла изделий;
лот № 12 – Разработка методов и средств построения программных имитирующих комплексов для испытания распределенных радиоэлектронных систем, созданных на перспективной элементной базе.
Срок, место и порядок предоставления конкурсной документации: до окончания срока подачи заявок на участие в конкурсе заинтересованные лица на основании письменного заявления могут бесплатно получить экземпляр конкурсной документации на бумажном носителе по адресу заказчика в рабочие дни с 10.00 до 16.30. Конкурсная документация размещена на официальном сайте www.zakupki.gov.ru
Место, дата и время вскрытия конвертов с заявками на участие в конкурсе и открытия доступа к поданным в форме электронных документов заявкам на участие в конкурсе: по адресу заказчика в 11.00 27 июля
Место нахождения и почтовый адрес: 109074, Россия, г. Москва, Китайгородский пр-д, д. 7.
Контактные лица: Петропавлов Юрий Иосифович телефон: (495) 621-13-06
Щербина Диана Тахировна телефон: (495) 710-68-89, 632-82-49
